產品簡介
紅外發(fā)射光譜（Infrared Emission Spectroscopy）是一種直接、無損地獲取物質材料光譜信息的紅外檢測手段，是對紅外透射、紅外反射、衰減全反射(ATR)、漫反射等測量方式的有效補充。由于材料自身就是紅外的發(fā)射源，因此發(fā)射光譜應用領域比較廣，如不適合做透射測量的物質表面、強腐蝕性且不透光的樣品、發(fā)射光源的光譜特征、體積較大的物體、距離較遠的目標、超高溫樣品的光譜特性、等離子體的發(fā)射測量等。
黑體 IR-563/301 的技術參數(shù)
卓立漢光自主設計的獨立式傅里葉變換紅外發(fā)射光譜儀，該光譜儀集成專門的發(fā)射平臺，可以安裝各種不同的發(fā)射附件和參考黑體，滿足不同溫度下不同材料的表征需求。光譜儀主機配置雙檢測器位置，方便用戶隨時進行多個檢測器的切換測量。靈活的光路設計，用戶可以選擇聚焦光路或者平行光路來適合不同的樣品。此外，F(xiàn)I-RXF100-RE 也可以更換內部的光學元器件，使測量譜區(qū)擴展到近紅外波段，滿足近紅外光源的發(fā)射測量。
發(fā)射光譜的測量方式及注意事項，視樣品形態(tài)的不同而有所差別。對于薄膜樣品，可以將薄膜擔載在金屬基底上進行測量，以減少基底的輻射；制備樣品的厚度不能太大或者氣體濃度不能太高，防止樣品自吸收造成的譜圖發(fā)形；如果背景的輻射較強，在計算樣品發(fā)射率時，需要考慮將背景的發(fā)射強度扣除后，才能得到準確的結果；如果樣品在測量過程中釋放出氣體，用戶需要考慮在發(fā)射裝置上增加吹掃，以減少氣體對譜圖的影響。
產品應用領域
產品特點
干涉儀：高*邁克爾遜干涉儀，光路永*準直，穩(wěn)定性極佳，10 年質量保證
固態(tài)激光器：性能穩(wěn)定，使用壽命達 10 年以上
發(fā)射源：聚焦光路，用戶的樣品或者熱源或者黑體
分束器：ZnSe 材質分束器和 ZnSe 窗片，防止光學器件潮解（可選 KBr、石英分束器）
檢測器：內置雙檢測器位置，可選擇常溫檢測器或者低溫 MCT、銦鎵砷，可以實現(xiàn)軟件自動切換
光路設計：專用的發(fā)射光路設計，簡潔緊湊，降低輻射損失，提高輻射通量
發(fā)射附件：可定制各種附件滿足客戶的實際測試需求
產品技術參數(shù)
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光譜范圍 |
標準范圍 500 ～5000 cm-1 （可選 400-7500cm-1、400-10000cm-1、戒擴展到近紅外 12500 cm-1） |
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光譜分辨率 |
優(yōu)于 2 cm-1，通常使用 8 cm-1 |
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測量方式 |
將樣品放置在聚焦點，可以選擇不同的溫控儀或者黑體 |
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工作條件 |
工作溫度：-5～40℃；工作濕度：0 ～100%R.H. |
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電源 |
100～240VAC ，50～60Hz, 20W； |
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重量 |
12kg |
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尺寸 |
44 cm×33 cm×18cm(W×D×H；含發(fā)射擋板) |
對于室溫下的物質的紅外發(fā)射測量，卓立漢光提供了另外一種解決方案。通過 FI-RXF 系列傅里葉變換紅外光譜儀主機和反射附件或者積分球附件，測量得到材料的反射光譜。根據基爾霍夫定律和能量守恒定理，我們可以非常方便地獲得室溫下不透明材料的發(fā)射率。詳細解決方案可以咨詢卓立漢光的應用工程師。
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